LG화학은 '히알루론산(HA) 필러 와이솔루션 장기 안전성 평가(One-Year Safety Evaluation of New Hyaluronic Acid Fillers(YYS Series)' 논문이 SCI급 국제 피부과학 학술지인 '더마톨로직 서저리(Dermatologic Surgery)'에 게재됐다고 밝혔다.
논문에서는 가교제의 투입량을 최소화해 볼륨개선 효과를 내는 LG화학의 ▲'S-HICE 가교기술(Sync - High Concentration equalized cross-linking technology)', ▲고분자 히알루론산, ▲이물 최소화 공정 등이 와이솔루션의 낮은 부작용 발현율에 영향을 미쳤을 것으로 분석했다.
이번 연구는 중앙대학교의료원 피부과 유광호 교수 연구팀(유광호, 박수정)이 이끌었으며, 압구정비앤미의원 이정민, 피어나클리닉 최호성, 댄클리닉 손민정, 수사랑의원 장샛별, 히트성형외과 한상철, 김종서성형외과 김종서, 뷰티스맑은피부과 신삼식, 오아로피부과 정재윤 등 8명 원장이 참여했다.
김소형기자 compact@sportschosun.com